xrd原理

xrd基本原理：XRD即X-ray diffraction的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

xrd分析：是X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。

XRD主要应用：X射线衍射在材料中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的衍射晶面间距及衍射线强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量;在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比等方面都得到广泛应用。

XRF检测的是元素组成及含量，而XRD则反映的是化合物的结构情况，因而两者的应用场合也有着本质的区别。具体如下：

1，用途不同。

XRD是x射线衍射光谱，(X-ray diffraction analysis)是用于测定晶体的结构的，而XRF是x射线荧光发射谱，(X-ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般测定原子序数小于Na的元素，定量测定的浓度范围是常量、微量、痕量。

2，原理上的差别。

XRD是以X射线的相干散射为基础，以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶体理论、倒易点阵厄瓦尔德图解为主要原理的;

XRF则是以莫斯莱定律(1/λ)1/2=k(Z-S)，k,S是与线性有关的常数。因此，得出不同元素具有不同的X射线(即特征线)为基础对元素定性、定量分析的。